上海 微分干涉金相显微镜 GX400-DIC

无限远光学系统，带同轴落射照明和偏光装置，大平台和升降立柱适宜高大试样，可用于大工件金相检测,电子行业大面积硅晶圆,PCB和LCD等。
      配置明暗场物镜和明暗场照明系统，提高了显微镜的分辨率和物像反差，减少眩光干扰，对试样中的某些不可见夹杂物、透明颗粒、晶界晶粒和固有色彩均能明晰地显现及进行对比、评级等。 
● 三目五孔：50×-500×,带分划目镜和测微尺.
● 广角大目镜WF10×/22, 无限远平场物镜5×,10×,20×,50×.
● 仪器基座300*240mm,机械载物台250*200mm,移动100*100mm.
● 升降范围120mm,同轴粗微动调焦≥30mm,微调1μm.
● 同轴落射照明,可变孔径和视场光阑,内切换偏光装置.
● 选配：物/目镜,暗视野,微分干涉,图像系统,压平机,金相制样设备.